- Главная
- Статьи
Статьи
Автоматизированная система диагностики «ТЕСТ-Д»
06 декабря 2007 г.
Автор: С. А. Сергеев
Система диагностики «ТЕСТ-Д» позволяет определить работоспособность подключенной электронной платы, а в случае ее неисправности установить причину отказа. Обладая всеми положительными свойствами сервисных приборов (надежность, малые габариты, простота обслуживания), система диагностики является гибкой и универсальной. Связь системы диагностики с персональным компьютером осуществляется через порт USB. Программное обеспечение системы диагностики , включающее базовое ПО и редакторы подготовки тестов, имеет удобный русскоязычный интерфейс и работает в среде WINDOWS98/2000/XP/NT/VISTA.
В состав системы диагностики «Тест-Д» входят:• Функциональный тестер•Внутрисхемный аналоговый тестер "VI-зонд".•Внутрисхемный тестер цифровых микросхем "ВТЦМ-32".•Тестер микропроцессорных устройств (логический анализатор) "ЛАД-03".•Программаторы микросхем PROM и EPROM.• Блок питания объекта контроля с напряжениями +/-5V, +/-12V ,+/-15V , +/-24V.
Комплекс приборов, входящих в состав системы, реализует методы функционального, сигнатурного и внутрисхемного тестирования, что позволяет автоматизировать диагностику различных промышленных электронных устройств.
При функциональном тестировании система диагностики проверяет работоспособность устройства, эмулируя его работу в составе действующего оборудования. Тестирование выполняется при помощи функционального тестера и программы «Диагностический тест».
Контактирование с проверяемым блоком, как правило, осуществляется через краевой разъем с помощью специализированного устройства - адаптера подключения. Адаптеры обеспечивают подачу питания на объект контроля и его связь с функциональным тестером. В некоторых случаях адаптеры осуществляют преобразование сигналов как воздействующих на объект, так и принимаемых с объекта.
Программа «Диагностический тест» позволяет тестировать электронные устройства на режимах близких или даже более жестких, чем работа в составе действующего оборудования. Алгоритм тестирования, задается в тестовом файле, где определяются комбинации воздействующих сигналов, их временная последовательность и сравнение полученных ответных сигналов с эталоном. Программа позволяет наглядно и компактно описать достаточно сложные алгоритмы тестирования практически любого электронного устройства, включая ОЗУ и ПЗУ. Методика создания тестов проста, понятна пользователю и подробно описана в поставляемой документации. Для редактирования и создания новых тестов в состав программного обеспечения входит удобный графический редактор. Использование циклического режима тестирования предоставляет возможность определения "плавающих" дефектов и неисправностей, связанных с прогревом устройства.
Метод внутрисхемного тестирования, по определению, означает тестирование отдельных компонентов на электронной плате. Данный метод используется для локализации неисправного элемента после обнаружения дефекта узла (платы) при помощи функционального тестирования. В состав системы диагностики входят устройства, реализующие методы аналогового и цифрового внутрисхемного тестирования - аналоговый внутрисхемный тестер VI-зонд и внутрисхемный тестер цифровых микросхем ВТЦМ-32.
Аналоговый внутрисхемный тестер VI-зонд работает в режимах: анализатора вольтамперных характе-ристик и осциллографического пробника.
Вольт-амперные характеристики (ВАХ) двухполюсников радиокомпонентов разного типа или схемного набора элементов печатной платы имеют четко выраженные и легко распознаваемые формы. Анализ вольт-амперных характеристик позволяет выявить неисправный элемент, подключенный к контролируемой точке устройства.
В то же время проверка входных и выходных импедансов интегральных элементов не может выявить нарушений их внутренней структуры. Неисправности, вызванные подобными причинами, выявляются только проверкой функционирования. Для проверки функционирования аналоговых элементов, основу которых составляют операционные уси-лители, применим осциллографический пробник, позволяющий получить осциллограмму выходного сигнала уси-лителя при воздействии на его вход периодического сигнала.
Сигнатуры и временные диаграммы, полученные в режимах анализатора ВАХ и пробника соответственно, мож-но записать в эталонный файл. Таким образом, имеется возможность тестирования электронных устройств путем сравнения полученных и эталонных диаграмм.
Аналоговый тестер VI-Зонд, реализующий метод аналогового поконтактного внутрисхемного тестирования, по-зволяет диагностировать электронные устройства с любой плотностью монтажа, а также компоненты с любыми типами корпусов, включая БИС, ПЛИС. Внутрисхемный тестер цифровых микросхем ВТЦМ-32 позволяет, не выпаивая цифровые микросхемы из платы, проверить правильность их функционирования. Во время проверки на контакты тестируемой микросхемы через специальную клипсу подаются импульсы, способные установить заданный уровень сигнала независимо от логического состояния компонента, связанного с проверяемым контактом. Величина импульса тока, подаваемого на контакт микросхемы, является достаточной для принудительной установки выхода логического элемента в за-данное состояние и в то же время не выводит его из строя, так как время воздействия ограничено.
Тестер ВТЦМ-32 имеет 32 цифровых канала, по которым происходит подача воздействий на проверяемую микросхему и прием реакций на эти воздействия. В начале теста осуществляется проверка исходных логических состояний выводов микросхемы и наличие на них переключений (сигналов от внутреннего генератора тестируемого устройства), наличие выводов, подключенных к цепям питания, и выводов, соединенных между собой перемычками. Полученный результат выводится на дисплей в виде мнемосхемы объекта контроля.
По результату проверки исходных логических состояний программа автоматически изменяет заданный в тестовом файле алгоритм тестирования, производит функциональный тест микросхемы в соответствии с измененным алгоритмом и выводит результаты тестирования на экран монитора в виде временных диаграмм и таблицы данных. При помощи тестера имеется возможность выполнять проверку различных цифровых микросхем, включая микросхемы ОЗУ и ПЗУ. Следует подчеркнуть, что данный прибор имеет возможность считать информацию с микросхем ППЗУ, впаянных в платы. В комплект поставки тестера входит библиотека тестов на большинство микросхем раз-личных серий и справочник их аналогов. В состав программного обеспечения тестера входит редактор тестов. С его помощью пользователь имеет возможность самостоятельно изменять алгоритм тестирования микросхем и производить разработку и отладку новых тестовых программ
Функциональное тестирование
При функциональном тестировании система диагностики проверяет работоспособность устройства, эмулируя его работу в составе действующего оборудования. Тестирование выполняется при помощи функционального тестера и программы «Диагностический тест». Программа «Диагностический тест» позволяет тестировать электронные устройства на режимах близких или даже более жестких, чем работа в составе действующего оборудования. Алгоритм тестирования, задается в тестовом файле, где определяются комбинации воздействующих сигналов, их временная последовательность и сравнение полученных ответных сигналов с эталоном. Программа позволяет наглядно и компактно описать достаточно сложные алгоритмы тестирования практически любого электронного устройства, включая ОЗУ и ПЗУ. Методика создания тестов проста, понятна пользователю и подробно описана в поставляемой документации. Для редактирования и создания новых тестов в состав программного обеспечения входит удобный графический редактор. Использование циклического режима тестирования предоставляет возможность определения "плавающих" дефектов и неисправностей, связанных с прогревом устройства.
Внутрисхемное тестирование
Метод внутрисхемного тестирования, по определению, означает тестирование отдельных компонентов на электронной плате. Данный метод используется для локализации неисправного элемента после обнаружения дефекта узла (платы) при помощи функционального тестирования. В состав системы диагностики входят устройства, реализующие методы аналогового и цифрового внутрисхемного тестирования - аналоговый внутрисхемный тестер VI-зонд и внутрисхемный тестер цифровых микросхем ВТЦМ-32.Вольт-амперные характеристики (ВАХ) двухполюсников радиокомпонентов разного типа или схемного набора элементов печатной платы имеют четко выраженные и легко распознаваемые формы. Анализ вольт-амперных характеристик позволяет выявить неисправный элемент, подключенный к контролируемой точке устройства.
В то же время проверка входных и выходных импедансов интегральных элементов не может выявить нарушений их внутренней структуры. Неисправности, вызванные подобными причинами, выявляются только проверкой функционирования. Для проверки функционирования аналоговых элементов, основу которых составляют операционные уси-лители, применим осциллографический пробник, позволяющий получить осциллограмму выходного сигнала уси-лителя при воздействии на его вход периодического сигнала.
Сигнатуры и временные диаграммы, полученные в режимах анализатора ВАХ и пробника соответственно, мож-но записать в эталонный файл. Таким образом, имеется возможность тестирования электронных устройств путем сравнения полученных и эталонных диаграмм.
Аналоговый тестер VI-Зонд, реализующий метод аналогового поконтактного внутрисхемного тестирования, по-зволяет диагностировать электронные устройства с любой плотностью монтажа, а также компоненты с любыми типами корпусов, включая БИС, ПЛИС. Внутрисхемный тестер цифровых микросхем ВТЦМ-32 позволяет, не выпаивая цифровые микросхемы из платы, проверить правильность их функционирования. Во время проверки на контакты тестируемой микросхемы через специальную клипсу подаются импульсы, способные установить заданный уровень сигнала независимо от логического состояния компонента, связанного с проверяемым контактом. Величина импульса тока, подаваемого на контакт микросхемы, является достаточной для принудительной установки выхода логического элемента в за-данное состояние и в то же время не выводит его из строя, так как время воздействия ограничено.
Тестер ВТЦМ-32 имеет 32 цифровых канала, по которым происходит подача воздействий на проверяемую микросхему и прием реакций на эти воздействия. В начале теста осуществляется проверка исходных логических состояний выводов микросхемы и наличие на них переключений (сигналов от внутреннего генератора тестируемого устройства), наличие выводов, подключенных к цепям питания, и выводов, соединенных между собой перемычками. Полученный результат выводится на дисплей в виде мнемосхемы объекта контроля.По результату проверки исходных логических состояний программа автоматически изменяет заданный в тестовом файле алгоритм тестирования, производит функциональный тест микросхемы в соответствии с измененным алгоритмом и выводит результаты тестирования на экран монитора в виде временных диаграмм и таблицы данных. При помощи тестера имеется возможность выполнять проверку различных цифровых микросхем, включая микросхемы ОЗУ и ПЗУ. Следует подчеркнуть, что данный прибор имеет возможность считать информацию с микросхем ППЗУ, впаянных в платы. В комплект поставки тестера входит библиотека тестов на большинство микросхем раз-личных серий и справочник их аналогов. В состав программного обеспечения тестера входит редактор тестов. С его помощью пользователь имеет возможность самостоятельно изменять алгоритм тестирования микросхем и производить разработку и отладку новых тестовых программ
Логический анализ
Наиболее эффективным методом тестирования и ремонта микропроцессорных устройств является логиче
ский анализ. Используя различные режимы и комбинации событий для запуска логического анализатора, пользова-тель может получить на экране дисплея временные диаграммы алгоритма работы устройства, сравнить их с этало-ном и, таким образом, определить неисправность.
В состав диагностической системы «ТЕСТ-Д» входит тестер микропроцессорных устройств «Логиче-ский анализатор ЛАД-03», обладающий свойствами классического логического анализатора и дополнительными сервисными возможностями, направленными на облегчение диагностики и ремонта микропроцессорных устройств.
Основной отличительной особенностью прибора ЛАД-03 является возможность тестирования электронных устройств в режиме реального времени однократно и в циклическом режиме, путем сравнения алгоритма работы проверяемого устройства с эталоном, записанным в тестовом файле. Результат сравнения, представленный в виде данных, адресов, команд, свойственных исследуемому объекту, способен указать пользователю на неисправность или подсказать дальнейшее направление ее поиска.
Логический анализатор ЛАД-03 имеет 40 входных каналов. Вместе с тем программное обеспечение анализатора позволяет сохранить в одном тестовом файле любое число временных диаграмм сигналов. Использование синхрон-ного запуска анализатора и объекта контроля, предоставляет возможность последовательно снимать данные в одно-канальном (режим «Зонд») и многоканальном режиме, а затем сводить их на одном экране, получая целостную кар-тину работы узла из множества отдельных диаграмм. Представление информации в виде слов данных позволяет пользователю легко и быстро ее обработать. Одноканальный, последовательный съем данных (метод pin by pin) де-лает возможным тестировать электронные платы с любой плотностью монтажа и компоненты с любыми типами кор-пусов.
Логический анализатор ЛАД-05 , поставки которого начнутся с 2008 года, имеет максимальную частоту дискретизации 400 МГц и настраиваемые входные пороги.
ский анализ. Используя различные режимы и комбинации событий для запуска логического анализатора, пользова-тель может получить на экране дисплея временные диаграммы алгоритма работы устройства, сравнить их с этало-ном и, таким образом, определить неисправность.
В состав диагностической системы «ТЕСТ-Д» входит тестер микропроцессорных устройств «Логиче-ский анализатор ЛАД-03», обладающий свойствами классического логического анализатора и дополнительными сервисными возможностями, направленными на облегчение диагностики и ремонта микропроцессорных устройств.Основной отличительной особенностью прибора ЛАД-03 является возможность тестирования электронных устройств в режиме реального времени однократно и в циклическом режиме, путем сравнения алгоритма работы проверяемого устройства с эталоном, записанным в тестовом файле. Результат сравнения, представленный в виде данных, адресов, команд, свойственных исследуемому объекту, способен указать пользователю на неисправность или подсказать дальнейшее направление ее поиска.
Логический анализатор ЛАД-03 имеет 40 входных каналов. Вместе с тем программное обеспечение анализатора позволяет сохранить в одном тестовом файле любое число временных диаграмм сигналов. Использование синхрон-ного запуска анализатора и объекта контроля, предоставляет возможность последовательно снимать данные в одно-канальном (режим «Зонд») и многоканальном режиме, а затем сводить их на одном экране, получая целостную кар-тину работы узла из множества отдельных диаграмм. Представление информации в виде слов данных позволяет пользователю легко и быстро ее обработать. Одноканальный, последовательный съем данных (метод pin by pin) де-лает возможным тестировать электронные платы с любой плотностью монтажа и компоненты с любыми типами кор-пусов.
Логический анализатор ЛАД-05 , поставки которого начнутся с 2008 года, имеет максимальную частоту дискретизации 400 МГц и настраиваемые входные пороги.
Система диагностики успешно эксплуатируется на различных предприятиях России и стран СНГ более 8 лет. Аппаратная часть и программное обеспечение системы постоянно совершенствуется с целью увеличения функциональных возможностей и удобства пользования.
С системой диагностики поставляются аппаратно-программные комплекты (набор адаптеров и библиотека тестов) для ремонта различных электронных промышленных устройств: систем ЧПУ и программируемых контрол-леров 2С42, 2У22, 2Р22, 2Р32, НЦ31, МС2109, МС2101, НЦ80, ХШ9-11, СNC600, FMS3000, «Синумерик, МС1201, ХШ9-11, «Микродат», электроприводов «Размер 2М» всех моделей, ЭПБ2, «КЕМРОН», «КЕМТОК», «КЕМТОР», «КЕМРОС», «КЕМЕК», «APENA», «MEZOMATIС», ЭТУ2-2, ЭПУ1-2, ЭПУ2-2, BOSCH TR40/170, фотоимпульс-ных датчиков ВЕ178, ЛИР, ROD, электронных АТС и других устройств.
Функциональные возможности системы позволяют использовать ее в качестве диагностического стенда при производстве электронной аппаратуры. В этом случае кроме описанных выше приборов в состав системы мо-гут входить измерительные устройства и другое стандартное диагностическое оборудование. Разработчиком и про-изводителем системы диагностики является российское предприятие, с системой поставляется полный комплект технической документации, что позволяет адаптировать ее под конкретную задачу пользователя.
С системой диагностики поставляются аппаратно-программные комплекты (набор адаптеров и библиотека тестов) для ремонта различных электронных промышленных устройств: систем ЧПУ и программируемых контрол-леров 2С42, 2У22, 2Р22, 2Р32, НЦ31, МС2109, МС2101, НЦ80, ХШ9-11, СNC600, FMS3000, «Синумерик, МС1201, ХШ9-11, «Микродат», электроприводов «Размер 2М» всех моделей, ЭПБ2, «КЕМРОН», «КЕМТОК», «КЕМТОР», «КЕМРОС», «КЕМЕК», «APENA», «MEZOMATIС», ЭТУ2-2, ЭПУ1-2, ЭПУ2-2, BOSCH TR40/170, фотоимпульс-ных датчиков ВЕ178, ЛИР, ROD, электронных АТС и других устройств.
Функциональные возможности системы позволяют использовать ее в качестве диагностического стенда при производстве электронной аппаратуры. В этом случае кроме описанных выше приборов в состав системы мо-гут входить измерительные устройства и другое стандартное диагностическое оборудование. Разработчиком и про-изводителем системы диагностики является российское предприятие, с системой поставляется полный комплект технической документации, что позволяет адаптировать ее под конкретную задачу пользователя.
С. А. Сергеев
E-mail: trailer@cncinfo.ru
Тел. (481-2) 690910
http://www.stanok.cncinfo.ru
E-mail: trailer@cncinfo.ru
Тел. (481-2) 690910
http://www.stanok.cncinfo.ru
Новости
- В масштабе: выставка «Уголь России и Майнинг -2024» расширяет экспозицию
-
23 апреля 2024г.
С 4 по 7 июня 2024 года в Новокузнецке пройдет XXXII Международная специализированная выставка технологий горных разработок «Уголь России и Майнинг». Мероприятие состоится на площадке выставочного комплекса «Кузбасская ярмарка».
- Якутия увеличила добычу золота на 20%
-
23 апреля 2024г.
Золотодобывающие компании Якутии за январь-март этого года увеличили добычу золота на 20%, тем самым объем извлечения благородного металла из недр достиг 9,5 тонн.
- В 1 кв. 2024 «Русский Уголь» на 20% увеличил добычу бурого угля в Красноярском крае
-
12 апреля 2024г.
В январе – марте 2024 года компания «Русский Уголь» на 20%, или 200 тыс. тонн, увеличила объем добычи бурого энергетического угля на расположенном в Красноярском крае разрезе Переясловский.
Объявления 
-
28.04.2024г.Покупаю кабельно-проводниковую продукцию с храненияПокупаю кабельно-проводниковую продукцию с хранения и новую: целые барабаны, бухты, неликвиды, остатки на барабанах, невостребованный, ТМЦ. Крупный опт. Оплата: наличный и б/н расчет. Наш вывоз из любого региона России ...
-
25.04.2024г.Куплю кабель/провод с хранения, с резерва. Неликвиды предприятийКуплю кабель/провод с хранения, с резерва. Неликвиды предприятий. Остатки с объектов монтажа. Кабель любого назначения, любого сечения. Расчет наличный, безналичный. Оплачиваем как изделие. Выезд в регионы + cамовывоз. (Транскаб НППнг ...
-
24.04.2024г.Куплю кабель и провод с хранения, разных сеченийНа постоянной основе закупаем провод, провод не изолированный, кабель контрольный, кабель силовой и много другой кабельно-проводниковой продукции по регионам России, оптом. Самовывоз. Начатые, запечатанные барабаны. с хранения, после монтажа, неликвиды, ...
© Журнал "Промышленные регионы России", 2012
Web-canape — создание и продвижение сайтов
Главная | Карта сайта | Обратная связь
197342, г. Санкт-Петербург, Ул. Лисичанская, д. 6, лит.А, пом 612 Тел.: +7 (812) 951 7063
e-mail: info@promreg.ru